四川納卡檢測服務(wù)有限公司授權(quán)成都國威冠準(zhǔn)檢測技術(shù)有限公司在網(wǎng)絡(luò)推廣平臺上為其進(jìn)行檢驗(yàn)檢測業(yè)務(wù)推廣。成都國威冠準(zhǔn)檢測技術(shù)有限公司所發(fā)信息中的檢驗(yàn)檢測由四川納卡檢測服務(wù)有限公司檢驗(yàn)檢測，報告由四川納卡檢測服務(wù)有限公司出具。
尺寸測量實(shí)驗(yàn)室擁有一批高素質(zhì)的測量工程師和一批Hexagon大型高精密接觸式三坐標(biāo)、德國Werth影像非接觸式三坐標(biāo)、Hexagon高精密關(guān)節(jié)臂、Atos高精密三維掃描系統(tǒng)（合作設(shè)備）、高精度粗糙度儀、高精度測長儀等檢測設(shè)備。能夠?yàn)榭蛻籼峁┑臏y量解決方案（包括：完善的測試數(shù)據(jù)，合理的程序編寫及優(yōu)化、的技術(shù)支持及培訓(xùn)）。
常規(guī)尺寸測量服務(wù)
（1）長度、寬度、高度、距離、直徑、角度、坐標(biāo)值檢測
（2）GDT中直線度、平面度、圓度、圓柱度、形狀的單點(diǎn)觸測
復(fù)雜高精密尺寸測量服務(wù)
（1）GDT中直線度、平面度、圓度、圓柱度、形狀掃描檢測
（2）GDT中垂直度、傾斜度、平行度、位置度、同軸（心）度、對稱度、跳動檢測
尺寸測量服務(wù)（粗糙度）
（1）粗糙度檢測可提供波紋圖參數(shù), 原始輪廓參數(shù).JIS 標(biāo)準(zhǔn)參數(shù), DIN 標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)
尺寸測量服務(wù)（3D數(shù)模比對）
曲面、曲線的線輪廓和面輪廓度檢測
3D掃描&逆向工程
根據(jù)實(shí)體掃描，可測常規(guī)尺寸、形位公差及3D色譜分析，也可轉(zhuǎn)為3D實(shí)體模型
微觀尺寸檢測
采用布魯克的3D白光干涉儀、東京精密的2D探針輪廓儀、掃描電子顯微鏡等國際超精密設(shè)備，能為企業(yè)提供微米、納米級別的微觀尺寸量測、3D形貌掃描分析、非常規(guī)尺寸（如微小部件的R角半徑、樣品表面異常分析等）以及表面粗糙檢測等服務(wù)，幫助企業(yè)解決一系列產(chǎn)品開發(fā)、生產(chǎn)過程中出現(xiàn)的各種異常狀況，協(xié)助企業(yè)管控生產(chǎn)質(zhì)量。

微觀尺寸是一般是指用三坐標(biāo)測量機(jī)及影像測量機(jī)等高精度測量儀器也無法量測尺寸，通常指2μm以下 的尺寸。而隨著現(xiàn)代制造工藝和產(chǎn)品設(shè)計水平的不斷提高，多維曲面的頻繁使用，使得逆向測繪變得十分困難。

表面粗糙度參數(shù)含義
Ra評定輪廓算術(shù)平均偏差：在一個取樣長度內(nèi)縱坐標(biāo)值的的算術(shù)平均值。
Rz輪廓大高度：在一個取樣長度內(nèi)，大輪廓峰高與低輪廓谷深之間的距離。（在GB/T 3505-83版中Rz曾用于表示‘不平度的十點(diǎn)高度’。）
Rt輪廓總高度：在評定長度內(nèi)大輪廓峰高和低輪廓谷深之間的距離。（由于評定長度≥取樣長度，故Rt≥Rz）
Sa評定表面算術(shù)平均偏差:在取樣面積內(nèi)縱坐標(biāo)的的算術(shù)平均值。（3D光學(xué)干涉法測量出的面粗糙度，適用于Ra≤0.8微米的表面粗糙度）
Rq評定輪廓的均方根差：在一個取樣長度內(nèi)縱坐標(biāo)的均方根值。
測量方法：探針接觸式測量法、光學(xué)干涉非接觸式測量法
檢測設(shè)備：2D輪廓掃描儀、3D光學(xué)干涉儀

主要服務(wù)項(xiàng)目：
表面粗糙度測量（Rz、Ra、Rq、Rv、Sa、Sz等參數(shù)）；
波紋度檢測；
機(jī)械加工、表面處理等制程；
輪廓尺寸測量、輪廓尺寸驗(yàn)證；
表面失效/缺陷尺寸分析（劃痕、白點(diǎn)、表面霧化等）；
微觀尺寸測量（長寬高、半徑、面積、體積等）；
透明/半透明膜厚測試；
3D微觀表面掃描、3D微觀表面縫合掃描；
非常規(guī)尺寸測量（微小部件圓角半徑、倒角塌邊等）；
粉末顆粒粒徑測量；
產(chǎn)品加工刀紋尺寸測量等。
我們的優(yōu)勢：
的設(shè)備：清一色國外進(jìn)口的高精度尺寸檢測設(shè)備；
豐富的經(jīng)驗(yàn)和大地測試容量
快速的測試周期：一般3工作日出具報告；
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