測(cè)試周期3~5個(gè)工作日
測(cè)試設(shè)備三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x/影像測(cè)量?jī)x
檢測(cè)樣品范圍金屬加工件、塑料件等
設(shè)備品牌海克斯康
平臺(tái)(工作臺(tái))花崗巖
四川納卡檢測(cè)服務(wù)有限公司授權(quán)成都國(guó)威冠準(zhǔn)檢測(cè)技術(shù)有限公司在網(wǎng)絡(luò)推廣平臺(tái)上為其進(jìn)行檢驗(yàn)檢測(cè)業(yè)務(wù)推廣。成都國(guó)威冠準(zhǔn)檢測(cè)技術(shù)有限公司所發(fā)信息中的檢驗(yàn)檢測(cè)由四川納卡檢測(cè)服務(wù)有限公司檢驗(yàn)檢測(cè),報(bào)告由四川納卡檢測(cè)服務(wù)有限公司出具。
尺寸測(cè)量實(shí)驗(yàn)室擁有一批高素質(zhì)的測(cè)量工程師和一批Hexagon大型高精密接觸式三坐標(biāo)、德國(guó)Werth影像非接觸式三坐標(biāo)、Hexagon高精密關(guān)節(jié)臂、Atos高精密三維掃描系統(tǒng)(合作設(shè)備)、高精度粗糙度儀、高精度測(cè)長(zhǎng)儀等檢測(cè)設(shè)備。能夠?yàn)榭蛻?hù)提供的測(cè)量解決方案(包括:完善的測(cè)試數(shù)據(jù),合理的程序編寫(xiě)及優(yōu)化、的技術(shù)支持及培訓(xùn))。
常規(guī)尺寸測(cè)量服務(wù)
(1)長(zhǎng)度、寬度、高度、距離、直徑、角度、坐標(biāo)值檢測(cè)
(2)GDT中直線(xiàn)度、平面度、圓度、圓柱度、形狀的單點(diǎn)觸測(cè)
復(fù)雜高精密尺寸測(cè)量服務(wù)
(1)GDT中直線(xiàn)度、平面度、圓度、圓柱度、形狀掃描檢測(cè)
(2)GDT中垂直度、傾斜度、平行度、位置度、同軸(心)度、對(duì)稱(chēng)度、跳動(dòng)檢測(cè)
尺寸測(cè)量服務(wù)(粗糙度)
(1)粗糙度檢測(cè)可提供波紋圖參數(shù), 原始輪廓參數(shù).JIS 標(biāo)準(zhǔn)參數(shù), DIN 標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)
尺寸測(cè)量服務(wù)(3D數(shù)模比對(duì))
曲面、曲線(xiàn)的線(xiàn)輪廓和面輪廓度檢測(cè)
3D掃描&逆向工程
根據(jù)實(shí)體掃描,可測(cè)常規(guī)尺寸、形位公差及3D色譜分析,也可轉(zhuǎn)為3D實(shí)體模型
檢測(cè)量測(cè)實(shí)驗(yàn)室服務(wù)項(xiàng)目:
1.模具驗(yàn)證及分析:
新產(chǎn)品模具尺寸驗(yàn)證
模具承認(rèn)
件檢測(cè)
夾治具評(píng)估
2.制程驗(yàn)證及分析:
統(tǒng)計(jì)制程能量分析
制程相關(guān)問(wèn)題分析及解決
3.量測(cè)技術(shù)支持:
離線(xiàn)測(cè)量程序開(kāi)發(fā)
量測(cè)系統(tǒng)能力評(píng)估
測(cè)量方案提供等
微觀尺寸檢測(cè)
采用布魯克的3D白光干涉儀、東京精密的2D探針輪廓儀、掃描電子顯微鏡等國(guó)際超精密設(shè)備,能為企業(yè)提供微米、納米級(jí)別的微觀尺寸量測(cè)、3D形貌掃描分析、非常規(guī)尺寸(如微小部件的R角半徑、樣品表面異常分析等)以及表面粗糙檢測(cè)等服務(wù),幫助企業(yè)解決一系列產(chǎn)品開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)過(guò)程中出現(xiàn)的各種異常狀況,協(xié)助企業(yè)管控生產(chǎn)質(zhì)量。
表面粗糙度參數(shù)含義
Ra評(píng)定輪廓算術(shù)平均偏差:在一個(gè)取樣長(zhǎng)度內(nèi)縱坐標(biāo)值的的算術(shù)平均值。
Rz輪廓大高度:在一個(gè)取樣長(zhǎng)度內(nèi),大輪廓峰高與低輪廓谷深之間的距離。(在GB/T 3505-83版中Rz曾用于表示‘不平度的十點(diǎn)高度’。)
Rt輪廓總高度:在評(píng)定長(zhǎng)度內(nèi)大輪廓峰高和低輪廓谷深之間的距離。(由于評(píng)定長(zhǎng)度≥取樣長(zhǎng)度,故Rt≥Rz)
Sa評(píng)定表面算術(shù)平均偏差:在取樣面積內(nèi)縱坐標(biāo)的的算術(shù)平均值。(3D光學(xué)干涉法測(cè)量出的面粗糙度,適用于Ra≤0.8微米的表面粗糙度)
Rq評(píng)定輪廓的均方根差:在一個(gè)取樣長(zhǎng)度內(nèi)縱坐標(biāo)的均方根值。
測(cè)量方法:探針接觸式測(cè)量法、光學(xué)干涉非接觸式測(cè)量法
檢測(cè)設(shè)備:2D輪廓掃描儀、3D光學(xué)干涉儀
服務(wù)項(xiàng)目:
3D掃描:
3D任意外觀曲面掃描
3D現(xiàn)場(chǎng)掃描
產(chǎn)品3D CAD Model建構(gòu)
易變形彈性曲面掃描量測(cè)
3D實(shí)體色階比對(duì)表面缺陷分析
2D邊緣輪廓色階比對(duì)邊緣缺陷分析
逆向工程:
分析競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手產(chǎn)品設(shè)計(jì)
產(chǎn)品或模具自由曲面建構(gòu)
快速樣品制作之CAD圖檔建構(gòu)
使用設(shè)備:
3D輪廓掃描機(jī)器人
3D輪廓掃描儀
手持式掃描儀等
都檢測(cè)中心3D驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)室配備有目前市場(chǎng)上的掃描設(shè)備ATOS,利用光學(xué)拍照定位技術(shù)和光柵測(cè)量原理及其特的自動(dòng)拼接技術(shù),拓展出對(duì)曲面的檢測(cè)和外觀缺陷分析的能力。同時(shí)延伸出逆向工程、機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì),以滿(mǎn)足市場(chǎng)需求。
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