測(cè)試周期3~5個(gè)工作日
測(cè)試設(shè)備三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x/影像測(cè)量?jī)x
檢測(cè)樣品范圍金屬加工件、塑料件等
設(shè)備品牌??怂箍?/span>
平臺(tái)(工作臺(tái))花崗巖
四川納卡檢測(cè)服務(wù)有限公司授權(quán)成都國(guó)威冠準(zhǔn)檢測(cè)技術(shù)有限公司在網(wǎng)絡(luò)推廣平臺(tái)上為其進(jìn)行檢驗(yàn)檢測(cè)業(yè)務(wù)推廣。成都國(guó)威冠準(zhǔn)檢測(cè)技術(shù)有限公司所發(fā)信息中的檢驗(yàn)檢測(cè)由四川納卡檢測(cè)服務(wù)有限公司檢驗(yàn)檢測(cè),報(bào)告由四川納卡檢測(cè)服務(wù)有限公司出具。
尺寸檢測(cè)
尺寸是零件在生產(chǎn)過(guò)程中是基本也是重要的控制要素之一,四川納卡成都檢測(cè)中心尺寸檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室配備有大量高精度三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、影像測(cè)量機(jī)等尺寸檢測(cè)設(shè)備??蓪?duì)客戶公司產(chǎn)品之零件(模具、塑件、五金件)及治具執(zhí)行高精密及高速度之幾何尺寸和相互位置的量測(cè),同時(shí)還可對(duì)空間型面進(jìn)行掃描,繪出輪廓圖,為設(shè)計(jì)、制造和品管等部門(mén)提供準(zhǔn)確之量測(cè)數(shù)據(jù) 。
表面粗糙度參數(shù)含義
Ra評(píng)定輪廓算術(shù)平均偏差:在一個(gè)取樣長(zhǎng)度內(nèi)縱坐標(biāo)值的的算術(shù)平均值。
Rz輪廓大高度:在一個(gè)取樣長(zhǎng)度內(nèi),大輪廓峰高與低輪廓谷深之間的距離。(在GB/T 3505-83版中Rz曾用于表示‘不平度的十點(diǎn)高度’。)
Rt輪廓總高度:在評(píng)定長(zhǎng)度內(nèi)大輪廓峰高和低輪廓谷深之間的距離。(由于評(píng)定長(zhǎng)度≥取樣長(zhǎng)度,故Rt≥Rz)
Sa評(píng)定表面算術(shù)平均偏差:在取樣面積內(nèi)縱坐標(biāo)的的算術(shù)平均值。(3D光學(xué)干涉法測(cè)量出的面粗糙度,適用于Ra≤0.8微米的表面粗糙度)
Rq評(píng)定輪廓的均方根差:在一個(gè)取樣長(zhǎng)度內(nèi)縱坐標(biāo)的均方根值。
測(cè)量方法:探針接觸式測(cè)量法、光學(xué)干涉非接觸式測(cè)量法
檢測(cè)設(shè)備:2D輪廓掃描儀、3D光學(xué)干涉儀
主要服務(wù)項(xiàng)目:
表面粗糙度測(cè)量(Rz、Ra、Rq、Rv、Sa、Sz等參數(shù));
波紋度檢測(cè);
機(jī)械加工、表面處理等制程;
輪廓尺寸測(cè)量、輪廓尺寸驗(yàn)證;
表面失效/缺陷尺寸分析(劃痕、白點(diǎn)、表面霧化等);
微觀尺寸測(cè)量(長(zhǎng)寬高、半徑、面積、體積等);
透明/半透明膜厚測(cè)試;
3D微觀表面掃描、3D微觀表面縫合掃描;
非常規(guī)尺寸測(cè)量(微小部件圓角半徑、倒角塌邊等);
粉末顆粒粒徑測(cè)量;
產(chǎn)品加工刀紋尺寸測(cè)量等。
服務(wù)項(xiàng)目:
3D掃描:
3D任意外觀曲面掃描
3D現(xiàn)場(chǎng)掃描
產(chǎn)品3D CAD Model建構(gòu)
易變形彈性曲面掃描量測(cè)
3D實(shí)體色階比對(duì)表面缺陷分析
2D邊緣輪廓色階比對(duì)邊緣缺陷分析
逆向工程:
分析競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手產(chǎn)品設(shè)計(jì)
產(chǎn)品或模具自由曲面建構(gòu)
快速樣品制作之CAD圖檔建構(gòu)
使用設(shè)備:
3D輪廓掃描機(jī)器人
3D輪廓掃描儀
手持式掃描儀等
表面粗糙度檢測(cè)
表面粗糙度是指加工表面具有的較小間距和微小峰谷的不平度 。其兩波峰或兩波谷之間的距離(波距)很?。ㄔ?mm以下),它屬于微觀幾何形狀誤差。
影響:表面粗糙度與機(jī)械零件的配合性質(zhì)、耐磨性、疲勞強(qiáng)度、接觸剛度、振動(dòng)和噪聲等有密切關(guān)系,對(duì)機(jī)械產(chǎn)品的使用壽命和可靠性有重要影響。
作用:生產(chǎn)過(guò)程控制、預(yù)測(cè)工件的表現(xiàn)、零件的性能
表面粗糙度參數(shù):Ra、Rz 、Rp 、Rv、Sa、Sz等
都檢測(cè)中心3D驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)室配備有目前市場(chǎng)上的掃描設(shè)備ATOS,利用光學(xué)拍照定位技術(shù)和光柵測(cè)量原理及其特的自動(dòng)拼接技術(shù),拓展出對(duì)曲面的檢測(cè)和外觀缺陷分析的能力。同時(shí)延伸出逆向工程、機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì),以滿足市場(chǎng)需求。
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