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尺寸檢測常用于研發(fā)階段的尺寸驗證、批量生產中的模組認證和件檢測。游標卡尺、千分尺等常規(guī)量測工具之尺寸檢測數(shù)據(jù)重復性一般低于三坐標、影像等自動化較高的量測設備。四川納卡檢測可參照樣品設計圖紙進行尺寸檢測編程，適用于大批量生產樣品的尺寸抽樣或尺寸驗證。
微觀尺寸是一般是指用三坐標測量機及影像測量機等高精度測量儀器也無法量測尺寸，通常指2μm以下 的尺寸。而隨著現(xiàn)代制造工藝和產品設計水平的不斷提高，多維曲面的頻繁使用，使得逆向測繪變得十分困難。

采用三維掃描儀能夠快速地獲得掃描物體的點云數(shù)據(jù)，通過的運用后期軟件，就能準確地獲得掃描物體的三維實體數(shù)據(jù)。表面粗糙度是指零件表面上具有較小間距和微小峰谷所形成的微觀幾何形狀誤差。是零件表面評定的重要技術指標之一。表面粗糙度是衡量已加工表面質量的重要標志之一，它對零件的耐磨性、耐腐蝕性、疲勞強度和配合性質都有很大影響。影像測量機通過鐳射的探照，可輕松測量樣品的小孔直徑、樣品輪廓等較為復雜的尺寸。

表面粗糙度參數(shù)含義
Ra評定輪廓算術平均偏差：在一個取樣長度內縱坐標值的的算術平均值。
Rz輪廓大高度：在一個取樣長度內，大輪廓峰高與低輪廓谷深之間的距離。（在GB/T 3505-83版中Rz曾用于表示‘不平度的十點高度’。）
Rt輪廓總高度：在評定長度內大輪廓峰高和低輪廓谷深之間的距離。（由于評定長度≥取樣長度，故Rt≥Rz）
Sa評定表面算術平均偏差:在取樣面積內縱坐標的的算術平均值。（3D光學干涉法測量出的面粗糙度，適用于Ra≤0.8微米的表面粗糙度）
Rq評定輪廓的均方根差：在一個取樣長度內縱坐標的均方根值。
測量方法：探針接觸式測量法、光學干涉非接觸式測量法
檢測設備：2D輪廓掃描儀、3D光學干涉儀

服務項目：
FAI（產品件檢驗） 
TVR（模具驗證） 
CpK （制程能力驗證及分析） 
GR&R (量測能力驗證及分析）
普通尺寸檢測
形位公差檢測
我們的優(yōu)勢：
的設備：清一色國外進口的高精度尺寸檢測設備；
豐富的經驗和大地測試容量
快速的測試周期：一般3工作日出具報告；
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