測試周期3~5個工作日
測試設(shè)備三坐標(biāo)測量儀/影像測量儀
檢測樣品范圍金屬加工件、塑料件等
設(shè)備品牌??怂箍?/span>
平臺(工作臺)花崗巖
四川納卡檢測服務(wù)有限公司授權(quán)成都國威冠準(zhǔn)檢測技術(shù)有限公司在網(wǎng)絡(luò)推廣平臺上為其進行檢驗檢測業(yè)務(wù)推廣。成都國威冠準(zhǔn)檢測技術(shù)有限公司所發(fā)信息中的檢驗檢測由四川納卡檢測服務(wù)有限公司檢驗檢測,報告由四川納卡檢測服務(wù)有限公司出具。
尺寸檢測常用于研發(fā)階段的尺寸驗證、批量生產(chǎn)中的模組認(rèn)證和件檢測。游標(biāo)卡尺、千分尺等常規(guī)量測工具之尺寸檢測數(shù)據(jù)重復(fù)性一般低于三坐標(biāo)、影像等自動化較高的量測設(shè)備。四川納卡檢測可參照樣品設(shè)計圖紙進行尺寸檢測編程,適用于大批量生產(chǎn)樣品的尺寸抽樣或尺寸驗證。
主要服務(wù)項目:
表面粗糙度測量(Rz、Ra、Rq、Rv、Sa、Sz等參數(shù));
波紋度檢測;
機械加工、表面處理等制程;
輪廓尺寸測量、輪廓尺寸驗證;
表面失效/缺陷尺寸分析(劃痕、白點、表面霧化等);
微觀尺寸測量(長寬高、半徑、面積、體積等);
透明/半透明膜厚測試;
3D微觀表面掃描、3D微觀表面縫合掃描;
非常規(guī)尺寸測量(微小部件圓角半徑、倒角塌邊等);
粉末顆粒粒徑測量;
產(chǎn)品加工刀紋尺寸測量等。
微觀尺寸檢測
采用布魯克的3D白光干涉儀、東京精密的2D探針輪廓儀、掃描電子顯微鏡等國際超精密設(shè)備,能為企業(yè)提供微米、納米級別的微觀尺寸量測、3D形貌掃描分析、非常規(guī)尺寸(如微小部件的R角半徑、樣品表面異常分析等)以及表面粗糙檢測等服務(wù),幫助企業(yè)解決一系列產(chǎn)品開發(fā)、生產(chǎn)過程中出現(xiàn)的各種異常狀況,協(xié)助企業(yè)管控生產(chǎn)質(zhì)量。
服務(wù)項目:
FAI(產(chǎn)品件檢驗)
TVR(模具驗證)
CpK (制程能力驗證及分析)
GR&R (量測能力驗證及分析)
普通尺寸檢測
形位公差檢測
表面粗糙度參數(shù)含義
Ra評定輪廓算術(shù)平均偏差:在一個取樣長度內(nèi)縱坐標(biāo)值的的算術(shù)平均值。
Rz輪廓大高度:在一個取樣長度內(nèi),大輪廓峰高與低輪廓谷深之間的距離。(在GB/T 3505-83版中Rz曾用于表示‘不平度的十點高度’。)
Rt輪廓總高度:在評定長度內(nèi)大輪廓峰高和低輪廓谷深之間的距離。(由于評定長度≥取樣長度,故Rt≥Rz)
Sa評定表面算術(shù)平均偏差:在取樣面積內(nèi)縱坐標(biāo)的的算術(shù)平均值。(3D光學(xué)干涉法測量出的面粗糙度,適用于Ra≤0.8微米的表面粗糙度)
Rq評定輪廓的均方根差:在一個取樣長度內(nèi)縱坐標(biāo)的均方根值。
測量方法:探針接觸式測量法、光學(xué)干涉非接觸式測量法
檢測設(shè)備:2D輪廓掃描儀、3D光學(xué)干涉儀
成都檢測中心擁有一批高精密度的大型檢測設(shè)備和一批訓(xùn)練有素的檢測的團隊,能夠為客戶提供的尺寸檢測與形位公差檢測服務(wù)。
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