四川納卡檢測服務有限公司授權成都國威冠準檢測技術有限公司在網絡推廣平臺上為其進行檢驗檢測業(yè)務推廣。成都國威冠準檢測技術有限公司所發(fā)信息中的檢驗檢測由四川納卡檢測服務有限公司檢驗檢測，報告由四川納卡檢測服務有限公司出具。
3D掃描與逆向工程
由于消費性電子產品對其外觀曲面的要求越來越高，在曲面光滑性和精度上也有著越來越高的要求，傳統的尺寸檢測方法已經不能滿足其要求。
檢測量測實驗室服務項目：
1.模具驗證及分析：
新產品模具尺寸驗證
模具承認
件檢測
夾治具評估
2.制程驗證及分析：
統計制程能量分析
制程相關問題分析及解決
3.量測技術支持：
離線測量程序開發(fā)
量測系統能力評估
測量方案提供等

服務項目：
FAI（產品件檢驗） 
TVR（模具驗證） 
CpK （制程能力驗證及分析） 
GR&R (量測能力驗證及分析）
普通尺寸檢測
形位公差檢測

主要服務項目：
表面粗糙度測量（Rz、Ra、Rq、Rv、Sa、Sz等參數）；
波紋度檢測；
機械加工、表面處理等制程；
輪廓尺寸測量、輪廓尺寸驗證；
表面失效/缺陷尺寸分析（劃痕、白點、表面霧化等）；
微觀尺寸測量（長寬高、半徑、面積、體積等）；
透明/半透明膜厚測試；
3D微觀表面掃描、3D微觀表面縫合掃描；
非常規(guī)尺寸測量（微小部件圓角半徑、倒角塌邊等）；
粉末顆粒粒徑測量；
產品加工刀紋尺寸測量等。

表面粗糙度參數含義
Ra評定輪廓算術平均偏差：在一個取樣長度內縱坐標值的的算術平均值。
Rz輪廓大高度：在一個取樣長度內，大輪廓峰高與低輪廓谷深之間的距離。（在GB/T 3505-83版中Rz曾用于表示‘不平度的十點高度’。）
Rt輪廓總高度：在評定長度內大輪廓峰高和低輪廓谷深之間的距離。（由于評定長度≥取樣長度，故Rt≥Rz）
Sa評定表面算術平均偏差:在取樣面積內縱坐標的的算術平均值。（3D光學干涉法測量出的面粗糙度，適用于Ra≤0.8微米的表面粗糙度）
Rq評定輪廓的均方根差：在一個取樣長度內縱坐標的均方根值。
測量方法：探針接觸式測量法、光學干涉非接觸式測量法
檢測設備：2D輪廓掃描儀、3D光學干涉儀
成都檢測中心擁有一批高精密度的大型檢測設備和一批訓練有素的檢測的團隊,能夠為客戶提供的尺寸檢測與形位公差檢測服務。
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