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3D掃描與逆向工程
由于消費(fèi)性電子產(chǎn)品對其外觀曲面的要求越來越高，在曲面光滑性和精度上也有著越來越高的要求，傳統(tǒng)的尺寸檢測方法已經(jīng)不能滿足其要求。
服務(wù)項(xiàng)目：
3D掃描：
3D任意外觀曲面掃描 
3D現(xiàn)場掃描
產(chǎn)品3D CAD Model建構(gòu)
易變形彈性曲面掃描量測
3D實(shí)體色階比對表面缺陷分析
2D邊緣輪廓色階比對邊緣缺陷分析 
逆向工程：
分析競爭對手產(chǎn)品設(shè)計(jì)
產(chǎn)品或模具自由曲面建構(gòu) 
快速樣品制作之CAD圖檔建構(gòu)
使用設(shè)備：
3D輪廓掃描機(jī)器人
3D輪廓掃描儀
手持式掃描儀等

表面粗糙度參數(shù)含義
Ra評(píng)定輪廓算術(shù)平均偏差：在一個(gè)取樣長度內(nèi)縱坐標(biāo)值的的算術(shù)平均值。
Rz輪廓大高度：在一個(gè)取樣長度內(nèi)，大輪廓峰高與低輪廓谷深之間的距離。（在GB/T 3505-83版中Rz曾用于表示‘不平度的十點(diǎn)高度’。）
Rt輪廓總高度：在評(píng)定長度內(nèi)大輪廓峰高和低輪廓谷深之間的距離。（由于評(píng)定長度≥取樣長度，故Rt≥Rz）
Sa評(píng)定表面算術(shù)平均偏差:在取樣面積內(nèi)縱坐標(biāo)的的算術(shù)平均值。（3D光學(xué)干涉法測量出的面粗糙度，適用于Ra≤0.8微米的表面粗糙度）
Rq評(píng)定輪廓的均方根差：在一個(gè)取樣長度內(nèi)縱坐標(biāo)的均方根值。
測量方法：探針接觸式測量法、光學(xué)干涉非接觸式測量法
檢測設(shè)備：2D輪廓掃描儀、3D光學(xué)干涉儀

采用三維掃描儀能夠快速地獲得掃描物體的點(diǎn)云數(shù)據(jù)，通過的運(yùn)用后期軟件，就能準(zhǔn)確地獲得掃描物體的三維實(shí)體數(shù)據(jù)。表面粗糙度是指零件表面上具有較小間距和微小峰谷所形成的微觀幾何形狀誤差。是零件表面評(píng)定的重要技術(shù)指標(biāo)之一。表面粗糙度是衡量已加工表面質(zhì)量的重要標(biāo)志之一，它對零件的耐磨性、耐腐蝕性、疲勞強(qiáng)度和配合性質(zhì)都有很大影響。影像測量機(jī)通過鐳射的探照，可輕松測量樣品的小孔直徑、樣品輪廓等較為復(fù)雜的尺寸。

服務(wù)項(xiàng)目：
FAI（產(chǎn)品件檢驗(yàn)） 
TVR（模具驗(yàn)證） 
CpK （制程能力驗(yàn)證及分析） 
GR&R (量測能力驗(yàn)證及分析）
普通尺寸檢測
形位公差檢測
都檢測中心3D驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)室配備有目前市場上的掃描設(shè)備ATOS，利用光學(xué)拍照定位技術(shù)和光柵測量原理及其特的自動(dòng)拼接技術(shù)，拓展出對曲面的檢測和外觀缺陷分析的能力。同時(shí)延伸出逆向工程、機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì)，以滿足市場需求。
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