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宜賓影像測(cè)量?jī)x尺寸測(cè)量
  • 宜賓影像測(cè)量?jī)x尺寸測(cè)量
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產(chǎn)品描述

測(cè)試周期3~5個(gè)工作日 測(cè)試設(shè)備三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x/影像測(cè)量?jī)x 檢測(cè)樣品范圍金屬加工件、塑料件等 設(shè)備品牌??怂箍?/span> 平臺(tái)(工作臺(tái))花崗巖
四川納卡檢測(cè)服務(wù)有限公司授權(quán)成都國(guó)威冠準(zhǔn)檢測(cè)技術(shù)有限公司在網(wǎng)絡(luò)推廣平臺(tái)上為其進(jìn)行檢驗(yàn)檢測(cè)業(yè)務(wù)推廣。成都國(guó)威冠準(zhǔn)檢測(cè)技術(shù)有限公司所發(fā)信息中的檢驗(yàn)檢測(cè)由四川納卡檢測(cè)服務(wù)有限公司檢驗(yàn)檢測(cè),報(bào)告由四川納卡檢測(cè)服務(wù)有限公司出具。
尺寸測(cè)量實(shí)驗(yàn)室擁有一批高素質(zhì)的測(cè)量工程師和一批Hexagon大型高精密接觸式三坐標(biāo)、德國(guó)Werth影像非接觸式三坐標(biāo)、Hexagon高精密關(guān)節(jié)臂、Atos高精密三維掃描系統(tǒng)(合作設(shè)備)、高精度粗糙度儀、高精度測(cè)長(zhǎng)儀等檢測(cè)設(shè)備。能夠?yàn)榭蛻籼峁┑臏y(cè)量解決方案(包括:完善的測(cè)試數(shù)據(jù),合理的程序編寫及優(yōu)化、的技術(shù)支持及培訓(xùn))。
常規(guī)尺寸測(cè)量服務(wù)
(1)長(zhǎng)度、寬度、高度、距離、直徑、角度、坐標(biāo)值檢測(cè)
(2)GDT中直線度、平面度、圓度、圓柱度、形狀的單點(diǎn)觸測(cè)
復(fù)雜高精密尺寸測(cè)量服務(wù)
(1)GDT中直線度、平面度、圓度、圓柱度、形狀掃描檢測(cè)
(2)GDT中垂直度、傾斜度、平行度、位置度、同軸(心)度、對(duì)稱度、跳動(dòng)檢測(cè)
尺寸測(cè)量服務(wù)(粗糙度)
(1)粗糙度檢測(cè)可提供波紋圖參數(shù), 原始輪廓參數(shù).JIS 標(biāo)準(zhǔn)參數(shù), DIN 標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)
尺寸測(cè)量服務(wù)(3D數(shù)模比對(duì))
曲面、曲線的線輪廓和面輪廓度檢測(cè)
3D掃描&逆向工程
根據(jù)實(shí)體掃描,可測(cè)常規(guī)尺寸、形位公差及3D色譜分析,也可轉(zhuǎn)為3D實(shí)體模型
主要服務(wù)項(xiàng)目:
表面粗糙度測(cè)量(Rz、Ra、Rq、Rv、Sa、Sz等參數(shù));
波紋度檢測(cè);
機(jī)械加工、表面處理等制程;
輪廓尺寸測(cè)量、輪廓尺寸驗(yàn)證;
表面失效/缺陷尺寸分析(劃痕、白點(diǎn)、表面霧化等);
微觀尺寸測(cè)量(長(zhǎng)寬高、半徑、面積、體積等);
透明/半透明膜厚測(cè)試;
3D微觀表面掃描、3D微觀表面縫合掃描;
非常規(guī)尺寸測(cè)量(微小部件圓角半徑、倒角塌邊等);
粉末顆粒粒徑測(cè)量;
產(chǎn)品加工刀紋尺寸測(cè)量等。
宜賓影像測(cè)量?jī)x尺寸測(cè)量
服務(wù)項(xiàng)目:
FAI(產(chǎn)品件檢驗(yàn)) 
TVR(模具驗(yàn)證) 
CpK (制程能力驗(yàn)證及分析) 
GR&R (量測(cè)能力驗(yàn)證及分析)
普通尺寸檢測(cè)
形位公差檢測(cè)
宜賓影像測(cè)量?jī)x尺寸測(cè)量
表面粗糙度參數(shù)含義
Ra評(píng)定輪廓算術(shù)平均偏差:在一個(gè)取樣長(zhǎng)度內(nèi)縱坐標(biāo)值的的算術(shù)平均值。
Rz輪廓大高度:在一個(gè)取樣長(zhǎng)度內(nèi),大輪廓峰高與低輪廓谷深之間的距離。(在GB/T 3505-83版中Rz曾用于表示‘不平度的十點(diǎn)高度’。)
Rt輪廓總高度:在評(píng)定長(zhǎng)度內(nèi)大輪廓峰高和低輪廓谷深之間的距離。(由于評(píng)定長(zhǎng)度≥取樣長(zhǎng)度,故Rt≥Rz)
Sa評(píng)定表面算術(shù)平均偏差:在取樣面積內(nèi)縱坐標(biāo)的的算術(shù)平均值。(3D光學(xué)干涉法測(cè)量出的面粗糙度,適用于Ra≤0.8微米的表面粗糙度)
Rq評(píng)定輪廓的均方根差:在一個(gè)取樣長(zhǎng)度內(nèi)縱坐標(biāo)的均方根值。
測(cè)量方法:探針接觸式測(cè)量法、光學(xué)干涉非接觸式測(cè)量法
檢測(cè)設(shè)備:2D輪廓掃描儀、3D光學(xué)干涉儀
宜賓影像測(cè)量?jī)x尺寸測(cè)量
檢測(cè)量測(cè)實(shí)驗(yàn)室服務(wù)項(xiàng)目:
1.模具驗(yàn)證及分析:
新產(chǎn)品模具尺寸驗(yàn)證
模具承認(rèn)
件檢測(cè)
夾治具評(píng)估
2.制程驗(yàn)證及分析:
統(tǒng)計(jì)制程能量分析
制程相關(guān)問題分析及解決
3.量測(cè)技術(shù)支持:
離線測(cè)量程序開發(fā)
量測(cè)系統(tǒng)能力評(píng)估
測(cè)量方案提供等
我們的優(yōu)勢(shì):
的設(shè)備:清一色國(guó)外進(jìn)口的高精度尺寸檢測(cè)設(shè)備;
豐富的經(jīng)驗(yàn)和大地測(cè)試容量
快速的測(cè)試周期:一般3工作日出具報(bào)告;
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